FISCHER Customized Solutions là dịch vụ thiết kế, chế tạo và tích hợp các trạm đo lường thử nghiệm tự động hóa chuyên biệt theo từng yêu cầu sản xuất độc nhất của khách hàng. Với hơn 70 năm kinh nghiệm dẫn đầu công nghệ đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu, đội ngũ kỹ sư chuyên gia của Helmut Fischer đồng hành cùng các nhà máy từ khâu lên bản vẽ cơ điện, tích hợp phần mềm PLC đến nghiệm thu vận hành dây chuyền 100%.
| Giai đoạn | Nội dung triển khai |
|---|---|
| 1. Khảo sát & Đánh giá | Phân tích chi tiết yêu cầu kỹ thuật, đặc thù phôi mẫu và chu kỳ thời gian (Takt time) của dây chuyền. |
| 2. Thiết kế Cơ - Điện - Phần mềm | Thiết kế mô hình 3D, lựa chọn công nghệ đo tối ưu (XRF / Dòng điện xoáy / Điện lượng), lập trình PLC và giao diện SCADA. |
| 3. Chế tạo & Thử nghiệm (FAT) | Lắp ráp hoàn thiện tại xưởng, chạy thử nghiệm mẫu thực tế và đánh giá độ lặp lại năng lực đo (MSA / GR&R). |
| 4. Lắp đặt & Bàn giao (SAT) | Tích hợp trực tiếp vào nhà máy, đào tạo chuyển giao công nghệ và hỗ trợ kỹ thuật 24/7. |
Phục vụ các tập đoàn sản xuất xe điện hàng đầu, nhà máy đúc vi mạch điện tử, các dự án công nghệ cao và các nhà máy thông minh Smart Factory theo xu hướng Công nghiệp 4.0.
Hitachi FT160 Series là hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X phân tích lớp phủ cao cấp hàng đầu thế giới được trang bị công nghệ hội tụ chùm tia Polycapillary Optics. Thiết bị được chế tạo chuyên biệt cho ngành công nghiệp bán dẫn (Semiconductor), bảng mạch in mật độ cao (High-Density Interconnect PCB) và linh kiện vi điện tử siêu nhỏ.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi FT160) |
|---|---|
| Hệ thống quang học | Thấu kính Polycapillary hội tụ chùm tia X vi điểm cực mạnh |
| Kích thước điểm phát tia X | Khoảng 30 µm (FWHM) hoặc 50 µm |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) diện tích lớn, làm mát nhiệt điện tử |
| Hệ thống chuyển động mẫu | Bàn đo động cơ servo tự động 3 trục XYZ độ chính xác cao |
| Khả năng phân tích lớp mạ | ENIG (Au/Ni/Cu), ENEPIG (Au/Pd/Ni/Cu), mạ hợp kim Sn-Pb, Au-Ag, v.v. |
Kiểm tra độ dày lớp mạ vi mô trong sản xuất chip bán dẫn, đóng gói vi mạch IC (Lead frames / BGA Substrates), bo mạch in điện thoại thông minh HDI PCB và đầu cắm micro-connector.
FISCHERSCOPE® X-RAY 4000 là giải pháp đo quang phổ huỳnh quang tia X chuyên biệt cho việc kiểm soát liên tục độ dày lớp mạ trên các dải dập kim loại hẹp, dây kim loại và đầu nối điện tử trong dây chuyền mạ cuộn (Reel-to-Reel Plating Lines). Hệ thống cho phép đo chính xác đồng thời cả hai mặt trên và dưới của dải sản phẩm.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (X-RAY 4000) |
|---|---|
| Phương pháp đo | Quang phổ huỳnh quang tia X (ED-XRF) chuẩn ASTM B568, ISO 3497 |
| Kết cấu khung đo | Khung chữ C (C-Frame) tích hợp hệ chống rung công nghiệp |
| Khẩu độ điểm đo (Collimators) | Từ 0.1 mm đến 1.0 mm (đo chính xác chân linh kiện cực nhỏ) |
| Các lớp phủ đo lường | Au, Ag, Pd, PdNi, Sn, SnPb, Ni, Cu, Zn trên dải thép, đồng thau, đồng beryllium |
| Phần mềm điều khiển | WinFTM® chuyên dụng cho dây chuyền tự động hóa với chức năng SPC tự động |
Kiểm tra lớp mạ dập đầu nối ô tô (Automotive connectors), chân cắm vi mạch IC leadframes, chân cắm tiếp điểm viễn thông và dải dây hàn bán dẫn.
FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Series là giải pháp đo quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) công nghiệp tự động hóa hoàn toàn, được thiết kế để tích hợp trực tiếp vào dây chuyền sản xuất liên tục tốc độ cao (Inline Process Control). Thiết bị chuyên dụng cho việc kiểm soát độ dày lớp phủ và thành phần hợp kim mỏng trên các dải kim loại, cuộn mạ (Coil Coating), pin mặt trời (Photovoltaics) và dải mạ dập liên tục (Reel-to-Reel).
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (X-RAY 5000 Series) |
|---|---|
| Phương pháp đo | Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF) theo DIN EN ISO 3497 |
| Đầu phát tia X (X-ray Tube) | Ống phát Microfocus hiệu suất cao, anode W/Mo/Rh, điện áp lên đến 50 kV |
| Bộ phát hiện tia X (Detector) | Đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) làm mát nhiệt điện tử Peltier |
| Cơ chế quét (Traverse) | Hệ trục tuyến tính quét tự động đa điểm theo chiều rộng dải mạ |
| Tốc độ đo phản hồi | Thời gian phân tích chỉ từ 20 ms – 1s cho kết quả tức thì |
| Chuẩn giao tiếp công nghiệp | Profinet, EtherCAT, Modbus TCP/IP, OPC-UA, Digital I/O |
Dây chuyền mạ cuộn thép dải liên tục, mạ dập linh kiện đầu nối điện tử Reel-to-Reel, sản xuất pin mặt trời màng mỏng CIGS/CdTe, dải đồng lá cho pin xe điện (EV Battery) và mạ dải trang trí cao cấp.
FISCHERSCOPE® XAN® LIQUID ANALYZER là hệ thống phân tích huỳnh quang tia X trực tuyến tự động được thiết kế chuyên dụng để giám sát nồng độ ion kim loại liên tục trực tiếp trong các bể dung dịch mạ điện và bể hóa chất công nghiệp mà không cần lấy mẫu thủ công hay pha loãng dung dịch.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XAN LIQUID ANALYZER) |
|---|---|
| Phương pháp phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X đo trực tiếp pha lỏng (Liquid ED-XRF) |
| Các nguyên tố phân tích | Từ Nhôm (Al, Z=13) đến Urani (U, Z=92) trong dung dịch mạ |
| Dải nồng độ phát hiện | Từ vài mg/L (ppm) đến hàng trăm g/L |
| Số lượng bể kết nối | Tích hợp bộ chọn dòng (Multiplexer) kết nối đo tuần tự tối đa 8 bể mạ |
| Giao diện điều khiển & Báo động | Tín hiệu analog 4-20mA, Modbus TCP/IP, Digital I/O kích hoạt bơm định lượng |
Kiểm soát nồng độ bể mạ điện tử PCB/Semiconductor, bể mạ vàng trang sức công nghiệp, bể mạ kẽm niken ô tô và các quy trình xử lý bề mặt kim loại tự động 100%.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ SEMI là hệ thống đo quang phổ XRF tự động hoàn toàn được chứng nhận phòng sạch Cleanroom Class 100 / ISO 5 theo tiêu chuẩn SEMI (Semiconductor Equipment and Materials International). Thiết bị được trang bị robot gắp wafer tự động từ hộp chứa FOUP/SMIF để đo kiểm độ dày lớp phủ và thành phần cấu trúc vi mô trên wafer bán dẫn kích thước lên đến 300 mm (12 inch).
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XDV-µ SEMI) |
|---|---|
| Chuẩn phòng sạch | SEMI S2/S8, Cleanroom Class 100 (ISO 14644-1 Class 5) |
| Kích thước Wafer hỗ trợ | Wafer đường kính 150 mm (6"), 200 mm (8"), 300 mm (12") và khung dán dải (Panel frames) |
| Kích thước điểm đo chùm tia X | Kính hội tụ đa mao quản ~10 µm, 20 µm hoặc 50 µm FWHM |
| Đầu dò tia X | Silicon Drift Detector (SDD) 50 mm² độ phân giải $le 135$ eV |
| Giao thức truyền thông nhà máy | Chuẩn giao tiếp bán dẫn SECS/GEM (SEMI E4, E5, E30, E37) |
Nhà máy chế tạo bán dẫn (Foundry & Fab), đóng gói chip tiên tiến (Advanced Packaging), đo vi cầu hàn Micro-bumps, lớp đệm kim loại UBM (Under Bump Metallization) và kiểm định đĩa wafer bộ nhớ/chip xử lý cao cấp.
Hitachi X-Strata920 là hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để bàn chuyên dụng cao cấp hàng đầu thế giới của tập đoàn Hitachi High-Tech. Thiết bị được thiết kế tối ưu cho việc đo độ dày lớp phủ đơn lớp, đa lớp (lên tới 4 - 5 lớp) và phân tích thành phần lớp mạ hợp kim trên các linh kiện cơ khí chính xác, bảng mạch điện tử PCB, đầu nối connector và đồ trang sức.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi X-Strata920) |
|---|---|
| Phương pháp phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF) theo ISO 3497 / ASTM B568 |
| Đầu phát tia X (X-ray Tube) | Ống phát tia X Microfocus Micro-spot 50 kV, anode W hoặc Mo |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải cao hoặc Proportional Counter |
| Khẩu độ điểm đo (Collimator) | 4 khẩu độ tự động chuyển đổi: 0.05 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm |
| Số lớp đo đồng thời | Tối đa lên tới 5 lớp phủ (kể cả lớp hợp kim và lớp nền) |
| Dải nguyên tố phân tích | Từ Titan (Ti, Z=22) hoặc Nhôm (Al, Z=13) đến Urani (U, Z=92) |
Đo độ dày lớp mạ vàng (Au), niken (Ni), niken hóa học (Electroless Ni), thiếc (Sn), bạc (Ag), kẽm (Zn), crom (Cr) trên bảng mạch PCB, đầu cắm kết nối, chi tiết ô tô, linh kiện điện tử và đồ trang sức cao cấp.
HORIBA XGT-9000 Series là hệ thống kính hiển vi phân tích quang phổ huỳnh quang tia X vi mô (X-ray Analytical Microscope / Micro-XRF) hàng đầu thế giới của tập đoàn HORIBA (Nhật Bản). Thiết bị kết hợp khả năng quan sát quang học độ phóng đại lớn và khả năng lập bản đồ phân bố nguyên tố (Elemental Mapping) vi mô siêu nhanh với kích thước chùm tia X hội tụ xuống mức 10 µm.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA XGT-9000) |
|---|---|
| Công nghệ phân tích | Micro-XRF kết hợp chụp ảnh X-ray truyền qua thời gian thực |
| Kích thước điểm phát tia X | 10 µm, 100 µm, 1.2 mm (Ống dẫn tia X mao quản siêu hội tụ) |
| Dải nguyên tố phân tích | Từ Natri (Na, Z=11) đến Urani (U, Z=92) |
| Đầu dò tia X | Dual Silicon Drift Detectors (SDD kép) diện tích lớn, độ nhạy cao |
| Kích thước buồng mẫu | Mẫu lên tới 350 x 300 mm (Bản XGT-9000SL buồng siêu lớn) |
Kiểm tra dị vật kim loại pin Lithium EV, phân tích lỗi vi mạch bán dẫn (Failure Analysis), kiểm tra RoHS vi mô trên chân linh kiện cực nhỏ, phân tích pháp y hình sự, khoáng sản địa chất và mẫu cổ vật.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 là thiết bị đo quang phổ huỳnh quang tia X đa năng hàng đầu, trang bị đầu dò SDD độ nhạy cao và bàn đo cơ học/tự động CNC, chuyên dụng đo các hệ lớp phủ mạ siêu mỏng và phân tích hợp kim phức tạp.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XDAL 600) |
|---|---|
| Đầu thu phát hiện | Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải < 140 eV |
| Khẩu độ chuẩn trực | 4 khẩu độ tự động chuyển đổi (từ 0.1 mm đến 1.0 mm) |
| Bàn di chuyển mẫu | Bàn cơ khí hoặc bàn lập trình CNC XY tự động |
| Tiêu chuẩn quốc tế | ISO 3497, ASTM B568, DIN EN 14582 |
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® / XUL® là dòng máy đo quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để bàn nhỏ gọn, linh hoạt và được ứng dụng rộng rãi nhất trên toàn cầu của hãng Helmut Fischer (Đức). Thiết bị chuyên dụng cho việc kiểm tra nhanh và không phá hủy độ dày lớp mạ điện phân, lớp phủ kim loại và phân tích thành phần dung dịch mạ.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XULM / XUL Series) |
|---|---|
| Ống phát tia X (X-ray Tube) | Ống vi tiêu cự Micro-focus với bia Vonfram (W) hoặc Molybden (Mo), điện áp tối đa 50 kV |
| Đầu thu phát hiện (Detector) | Proportional Counter Tube (Ống đếm tỷ lệ khí) |
| Khẩu độ chuẩn trực (Collimator) | Hệ 4 khẩu độ tự động chuyển đổi: 0.05 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm (XULM) |
| Khoảng cách đo (Measuring Distance) | 0 ~ 25 mm (Cố định bằng công nghệ định vị quang học tự động) |
| Tiêu chuẩn tuân thủ | DIN ISO 3497, ASTM B568, RoHS, WEEE |
Trong ngành in ấn hiện đại, sản xuất bao bì giấy cao cấp, in ấn màng nhôm phức hợp và in offset thương mại, việc kiểm soát sự chuẩn xác của lớp mực in, độ gia tăng hạt tram (Dot Gain) và sự đồng nhất màu sắc là yếu tố sống còn quyết định năng suất và uy tín của nhà in. máy đo mật độ quang phổ (Spectrodensitometer) là thiết bị đo quang phổ và mật độ in ấn tiên tiến bậc nhất hiện nay, được nhập khẩu và phân phối chính hãng trong hệ thống phân phối thiết bị đo lường chất lượng cao chuẩn quốc tế từ Werka. Sở hữu cấu trúc quang học chuẩn hóa $45/0^\circ$ (chiếu sáng vòng $45^\circ$, thu nhận $0^\circ$), đáp ứng trọn vẹn 4 điều kiện đo lường quốc tế M0, M1, M2, M3 theo tiêu chuẩn ISO 13655 cùng kính lọc phân cực Polarizer chuyên dụng, máy đo mật độ quang phổ cho phép đo "một chạm" đồng thời cả mật độ quang học CMYK lẫn tọa độ sắc độ CIE Lab với độ chuẩn xác tuyệt đối.
Trong một xưởng in offset, in flexo, in ống đồng hay in kỹ thuật số hiện đại, kỹ thuật viên in luôn phải đối mặt với hàng loạt biến số phức tạp ảnh hưởng đến sản phẩm đầu ra:
Để giải quyết triệt để những thách thức kỹ thuật trên, dòng máy đo mật độ quang phổ ra đời như một sự kết hợp hoàn hảo giữa Máy quang phổ đo màu chính xác cao (Spectrophotometer) và Máy đo mật độ in ấn chuyên sâu (Densitometer), mang đến công cụ kiểm soát chất lượng in ấn toàn diện và quyền lực nhất cho các xưởng in quy mô lớn.
Ngành in ấn và xuất bản quốc tế (tiêu chuẩn ISO 5-4 và CIE No.15) quy định hình học quang học $45/0^\circ$ là chuẩn mực tối cao để đo các ấn phẩm trên giấy và màng phim. máy đo mật độ quang phổ sử dụng nguồn chiếu sáng vòng đồng trục ở góc $45^\circ$ bao quanh mẫu thử và thu nhận tín hiệu phản xạ thẳng đứng ở góc $0^\circ$. Cấu trúc này triệt tiêu hoàn toàn hiện tượng phản xạ gương gây lóa mắt, mô phỏng chính xác $100\%$ góc nhìn của người đọc khi cầm tờ báo hoặc cuốn tạp chí trên tay.
Điểm làm nên giá trị cốt lõi của thiết bị chính là khả năng đáp ứng trọn vẹn 4 chế độ đo lường quốc tế theo tiêu chuẩn ISO 13655:
Với máy đo mật độ quang phổ, người vận hành chỉ cần thực hiện đúng một thao tác bấm nút duy nhất. Thiết bị sẽ tự động nhận diện màu mực (Cyan, Magenta, Yellow, Black hoặc màu pha Pantone) và hiển thị đồng thời cả giá trị mật độ quang học ($D$), tỷ lệ phần trăm hạt tram ($\%$) lẫn tọa độ màu không gian $L^*a^*b^*$ và độ lệch màu $\Delta E^*ab / \Delta E^*00$.
Máy được trang bị hệ thống tán sắc quang phổ bằng cách tử lõm vi chế tạo chính xác kết hợp với cảm biến hình ảnh CMOS mảng đôi 256 pixel. Tốc độ lấy mẫu quang phổ từ $400\text{nm}$ đến $700\text{nm}$ với bước sóng $10\text{nm}$ siêu nhanh (khoảng 1.5 giây), mang lại độ lặp lại mật độ quang học cực kỳ ấn tượng trong khoảng $0.01\text{ D}$ và độ lặp lại sắc độ $\Delta E^*ab \le 0.03$.
Để thích ứng hoàn hảo với các dải kiểm tra màu (Color Bar) có kích thước khác nhau trên các khổ in ấn, thiết bị hỗ trợ các tùy chọn khẩu độ đo chuyên dụng:
Thay vì phải nhấc máy lên và đặt xuống từng ô màu một cách thủ công tốn thời gian, máy đo mật độ quang phổ tích hợp bánh xe lăn và cảm biến quét tốc độ cao. Kỹ thuật viên chỉ cần trượt êm ái đầu máy dọc theo dải kiểm soát màu (Color Control Strip) trên tờ in, máy sẽ quét và thu nhận toàn bộ dữ liệu mật độ của hàng chục ô màu liên tục trong vài giây.
Giao diện người dùng được thiết kế trực quan trên màn hình cảm ứng điện dung 3.5 inch, hiển thị biểu đồ gia tăng hạt tram (TVI Curve), biểu đồ phổ phản xạ, đồ thị phân bố màu và bảng số liệu phân tích rõ ràng, giúp thợ in thao tác nhanh ngay cả khi đeo găng tay làm việc.
máy đo mật độ quang phổ hỗ trợ đầy đủ các tiêu chuẩn mật độ quốc tế: ISO Status T, Status E, Status A, Status I cùng các thông số in ấn chuyên sâu:
Dưới đây là thông số kỹ thuật chi tiết của máy đo mật độ quang phổ được tổng hợp chuẩn xác từ catalogue kỹ thuật gốc của nhà sản xuất:
| Thông Số Kỹ Thuật | Chi Tiết Tính Năng (Spectrodensitometer) |
|---|---|
| Hình học quang học | Cấu trúc $45/0^\circ$ ($45^\circ$ circular illumination, vertical $0^\circ$ viewing) |
| Tiêu chuẩn quốc tế tuân thủ | ISO 5-4, CIE No.15, ISO 13655, GB/T 3978, GB 2893, GB/T 18833, ISO 7724-1, ASTM E1164, DIN 5033 Teil 7 |
| Điều kiện đo lường (ISO 13655) |
- M0: Nguồn sáng A (CIE Light Source A) - M1: Nguồn sáng D50 có kiểm soát năng lượng UV - M2: Nguồn sáng cắt tia tử ngoại (UV-Cut illumination) - M3: Điều kiện M2 tích hợp Kính lọc phân cực (Polarized Light Filter) |
| Tiêu chuẩn mật độ (Density Standard) | ISO Status T, Status E, Status A, Status I |
| Bộ tách quang phổ & Cảm biến | Cách tử lõm (Concave Grating) + Cảm biến hình ảnh CMOS mảng đôi 256 pixel |
| Dải bước sóng & Khoảng cách phổ | Dải bước sóng: 400 ~ 700 nm | Khoảng cách bước sóng: 10 nm | Độ rộng dải phổ: 10 nm |
| Khẩu độ đo lường (Tùy chọn) | Khẩu độ đơn tùy chọn khi đặt hàng: $\Phi 2\text{mm}$, $\Phi 4\text{mm}$ hoặc $\Phi 8\text{mm}$ |
| Độ lặp lại mật độ quang học | Độ lặp lại mật độ: trong khoảng 0.01 D |
| Độ lặp lại sắc độ (Repeatability) | Giá trị sắc độ: $\Delta E^*ab \le 0.03$ (Đo tấm chuẩn trắng 30 lần cách nhau 5s sau hiệu chuẩn) |
| Độ sai lệch liên thiết bị (Inter-instrument) | $\Delta E^*ab \le 0.18$ (Giá trị trung bình đo trên 14 tấm gốm màu chuẩn BCRA Series II, ngoại trừ chế độ M3) |
| Chức năng đo quét dải màu | Tích hợp bánh xe và chế độ đo quét liên tục (Built-in scanning function) |
| Góc quan sát tiêu chuẩn | $2^\circ$ (CIE 1931) và $10^\circ$ (CIE 1964) |
| Nguồn sáng tiêu chuẩn | D65, A, C, D50, D55, D75, F1~F12 (CWF, DLF, TL84, TL83/U30, TPL5) |
| Màn hình hiển thị | Màn hình màu TFT 3.5 inch, cảm ứng điện dung mượt mà, độ phân giải cao |
| Dung lượng bộ nhớ lưu trữ | Lưu trữ trên máy: 20.000 dữ liệu đo kiểm + Lưu trữ không giới hạn trên phần mềm PC |
| Cổng giao tiếp dữ liệu | Cáp USB Type-C & Kết nối không dây Bluetooth 4.0 Dual-mode (tương thích chuẩn 2.1) |
| Nguồn pin hoạt động | Pin sạc Li-ion dung lượng cao (Thực hiện tới 5.000 lần đo cho 1 lần sạc đầy trong 8 giờ) |
| Kích thước & Trọng lượng | $184 \times 77 \times 105\text{ mm}$ (Dài $\times$ Rộng $\times$ Cao) | Trọng lượng: Khoảng 600g |
máy đo mật độ quang phổ là giải pháp kiểm tra và quản lý chất lượng không thể thiếu trong nhiều lĩnh vực chuyên sâu:
Kiểm tra nhanh độ dày lớp mực CMYK trên dải kiểm soát màu (Color Bar), cân bằng độ xám (Gray Balance), theo dõi đường cong gia tăng tầng thứ hạt tram TVI và kiểm soát mật độ mực ướt ngay trên bàn máy in bằng kính lọc phân cực M3.
Đo màu chuẩn xác các màu pha thương hiệu (Pantone Spot Colors) theo tọa độ CIE $L^*a^*b^*$ và công thức $\Delta E^*00$, kiểm soát độ che phủ và độ trắng của các loại giấy Couche, Ivory, Duplex có chứa chất tăng trắng OBA ở chế độ M1.
Đo mật độ quang học và độ bám dính mực in trên màng nhựa BOPP, PET, màng nhôm, tem nhãn mác tự dính decal với khẩu độ nhỏ $\Phi 2\text{mm}$.
Đánh giá độ tinh khiết của bột màu, lực màu (Tinting Strength) và độ phân tán của hạt mực trong quá trình sản xuất mực in công nghiệp.
Sức mạnh kiểm soát chất lượng in ấn của máy đo mật độ quang phổ được tối ưu hóa tối đa nhờ phần mềm máy tính chuyên dụng đi kèm:
Để đảm bảo máy đo mật độ quang phổ luôn hoạt động với độ chính xác cao nhất, thợ in và kỹ thuật viên QC nên thực hiện theo quy trình 4 bước chuẩn sau:
Bật nguồn máy đo. Trên màn hình cảm ứng, chọn điều kiện đo ISO 13655 mong muốn (M0, M1, M2 hoặc M3), chọn tiêu chuẩn mật độ (mặc định ISO Status T cho in offset Châu Á/Mỹ hoặc Status E cho Châu Âu) và chọn nguồn sáng chuẩn (mặc định D50 cho ngành in).
Trước khi đo mực in, đặt máy lên vùng giấy trắng chưa in của chính tờ in đó và bấm đo để máy thiết lập giá trị chuẩn mật độ giấy (Paper White Zero). Bước này giúp triệt tiêu hoàn toàn ảnh hưởng của màu nền giấy đến giá trị mật độ mực in.
Bảng phân tích chuyên sâu dưới đây làm nổi bật lý do vì sao các nhà in hiện đại đang chuyển đổi toàn diện sang máy đo mật độ quang phổ:
| Tính Năng So Sánh | Spectrodensitometer | Máy Đo Mật Độ Cũ (Densitometer) |
|---|---|---|
| Công nghệ thu nhận quang học | Cách tử lõm + CMOS 256 pixel (Quét phổ 400~700nm) | 3 bộ lọc kính màu RGB đơn giản |
| Điều kiện đo lường ISO 13655 | Đầy đủ M0, M1, M2, M3 | Chỉ có M0 đơn thuần |
| Đo màu pha Pantone (Spot Color) | Đo chính xác theo tọa độ màu $L^*a^*b^*$ và $\Delta E^*$ | Không đo được màu sắc thực tế của màu pha |
| Kính lọc phân cực (Đo mực ướt) | Tích hợp hộp kính lọc phân cực chế độ M3 | Không có (Bị sai số do hiệu ứng Dry-back) |
| Chức năng quét dải màu (Scan) | Tích hợp đo quét trượt dải màu liên tục | Chỉ đo được từng điểm thủ công |
| Màn hình & Thao tác | Màn hình màu TFT 3.5 inch cảm ứng điện dung | Màn hình đơn sắc LCD phím bấm cơ thô sơ |
Chế độ M3 sử dụng kính lọc phân cực ánh sáng giúp triệt tiêu thành phần phản xạ gương của màng mực ướt vừa in ra. Nhờ đó, thợ in có thể đo và điều chỉnh lượng cấp mực ngay trên tờ in ướt mà kết quả mật độ quang học vẫn trùng khớp với khi tờ in đã khô hoàn toàn, loại bỏ hiện tượng sai màu Dry-back và tiết kiệm thời gian chờ đợi.
Khi bạn in trên các loại giấy có chứa chất tăng trắng huỳnh quang OBA (như giấy Couche, Ivory cao cấp). Chế độ M1 kiểm soát chính xác năng lượng phổ UV của nguồn sáng D50, phản ánh đúng cách mắt người nhìn thấy màu sắc dưới ánh sáng ban ngày chuẩn hóa quốc tế.
Khẩu độ 4mm là lựa chọn phổ biến và phù hợp nhất cho hầu hết các xưởng in offset thương mại. Khẩu độ 2mm dành riêng cho các nhà in tem nhãn bao bì có dải màu hẹp dưới 3mm. Khẩu độ 8mm thích hợp cho in thùng carton sóng, in màng nhựa bản rộng hoặc in vải.
Có. Phần mềm máy tính chuyên dụng quản lý chất lượng in ấn và bù trừ hạt tram CTP đi kèm miễn phí trọn đời theo máy, hỗ trợ kết nối qua cáp USB Type-C hoặc Bluetooth không dây.
Trọn bộ bao gồm: Thân máy đo mật độ quang phổ (kèm khẩu độ đo đã chọn), Bộ nguồn sạc Adapter, Cáp truyền dữ liệu USB Type-C, Pin sạc Li-ion tích hợp, Khoang chuẩn đen và tấm chuẩn trắng, Hộp kính lọc phân cực (Polarization Filter Box), Nắp bảo vệ quang học, Dây đeo cổ tay, Hướng dẫn sử dụng và Giấy chứng nhận xuất xưởng của hãng.
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 500 là thiết bị đo quang phổ huỳnh quang tia X cầm tay (Handheld XRF) kiêm để bàn linh hoạt nhất của Helmut Fischer, cho phép mang đi hiện trường đo kiểm trực tiếp các cấu trúc cồng kềnh hoặc đặt trên giá đỡ để bàn làm việc như một máy đo chuyên dụng.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XAN 500) |
|---|---|
| Kiểu dáng thiết kế | Cầm tay di động (Handheld) kiêm Để bàn (Desktop Station) |
| Đầu thu phát hiện | Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải cao |
| Trọng lượng thiết bị | Khoảng 1.9 kg (Cầm tay nhẹ nhàng) |
Vui lòng điền thông tin để nhận mã xác thực tải Catalogue trọn bộ thiết bị Werka mới nhất (PDF):
File Catalogue trọn bộ thiết bị Werka (PDF) đã được gửi tự động vào hòm thư Email của bạn.
Vui lòng mở hộp thư đến (hoặc mục Spam/Quảng cáo) để tải tài liệu nhé!
