Kính Hiển Vi Phân Tích Quang Phổ Tia X Vi Mô Micro-XRF HORIBA XGT-9000 Series

1. Giới thiệu Kính hiển vi Micro-XRF HORIBA XGT-9000 Series

HORIBA XGT-9000 Series là hệ thống kính hiển vi phân tích quang phổ huỳnh quang tia X vi mô (X-ray Analytical Microscope / Micro-XRF) hàng đầu thế giới của tập đoàn HORIBA (Nhật Bản). Thiết bị kết hợp khả năng quan sát quang học độ phóng đại lớn và khả năng lập bản đồ phân bố nguyên tố (Elemental Mapping) vi mô siêu nhanh với kích thước chùm tia X hội tụ xuống mức 10 µm.

2. Đặc điểm công nghệ đỉnh cao

• Hội tụ chùm tia X vi mao quản (Guide Tube Technology): Tạo chùm tia siêu nhỏ từ 10 µm, 100 µm đến 1.2 mm, cho phép phân tích không phá hủy từng hạt dị vật, sợi kim loại hoặc chân hàn siêu vi.
• Đo đồng thời tia X truyền qua và huỳnh quang (Transmission X-ray & XRF Imaging): Vừa chụp cấu trúc bên trong mẫu bằng tia X truyền qua, vừa lập bản đồ phân bố hóa học của mẫu trong một lần quét duy nhất.
• Chế độ đo chân không, khí quyển hoặc dòng khí Heli: Cho phép phân tích các nguyên tố siêu nhẹ từ Natri (Na) và Magie (Mg) đến Urani (U).
• Sàng lọc khuyết tật và dị vật kim loại trong pin Lithium-ion: Phát hiện hạt kim loại kích thước siêu nhỏ vài micromet trong cực pin EV để ngăn ngừa sự cố cháy nổ.

3. Thông số kỹ thuật HORIBA XGT-9000 Series

4. Ứng dụng thực tế

Kiểm tra dị vật kim loại pin Lithium EV, phân tích lỗi vi mạch bán dẫn (Failure Analysis), kiểm tra RoHS vi mô trên chân linh kiện cực nhỏ, phân tích pháp y hình sự, khoáng sản địa chất và mẫu cổ vật.