Quay lại
Grid
List
Show
Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Đa Năng FISCHERSCOPE XDV
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Đa Năng FISCHERSCOPE XDV

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV

FISCHERSCOPE® XDV® là hệ thống đo quang phổ tia X cao cấp với buồng mẫu rộng lớn, tích hợp hệ thống quang học zoom tự động và bàn đo điều khiển CNC chính xác cao, chuyên dụng cho phân tích vi lượng và đo lớp mạ siêu mỏng.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Khả năng đo nguyên tố nhẹ trong môi trường chân không/khí Heli: Phân tích chính xác các nguyên tố siêu nhẹ như Natri (Na), Magie (Mg), Nhôm (Al), Silic (Si).
  • Bàn mẫu CNC XY tải trọng lớn: Vận hành êm ái, hành trình mở rộng giúp đo các cụm phôi lớn hoặc pallet nhiều chi tiết.
  • Hệ thống lấy nét bằng laser tự động (Laser Auto Focus): Định vị chính xác độ cao bề mặt mẫu đo trong tích tắc.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (FISCHERSCOPE XDV)
Đầu thu phát hiện Large-area Silicon Drift Detector (SDD)
Hành trình bàn đo CNC 250 × 250 mm hoặc tùy chọn mở rộng
Hệ thống lấy nét Laser Auto Focus tích hợp camera màu HD
Ứng dụng: Phân tích vật liệu bán dẫn, đo màng mỏng quang học, kiểm tra hợp kim đặc biệt và kiểm soát chất lượng R&D.
Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X FISCHERSCOPE X-RAY XDL
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X FISCHERSCOPE X-RAY XDL

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE X-RAY XDL

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® là dòng máy đo quang phổ huỳnh quang tia X hướng đo từ trên xuống (Top-down Geometry), chuyên dụng cho việc đo độ dày lớp phủ và phân tích kim loại trên các phôi mẫu đặt trong buồng kín an toàn.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Hướng đo từ trên xuống (Top-down): Dễ dàng quan sát trực quan mẫu đo qua camera màu độ nét cao.
  • Buồng đo rộng rãi có cửa mở lớn: Thao tác đặt mẫu kiểm tra nhanh chóng và thuận tiện cho người vận hành.
  • Đầu dò ống đếm tỷ lệ nạp khí: Cung cấp tín hiệu ổn định, độ bền bỉ cao cho các ứng dụng đo lường lớp mạ công nghiệp thông dụng.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDL

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (FISCHERSCOPE XDL)
Ống phát tia X Ống vi tiêu cự Micro-focus điện áp tối đa 50 kV
Đầu thu phát hiện Proportional Counter Tube
Hệ thống chuẩn trực Khẩu độ cố định hoặc có thể thay đổi
Kích thước buồng đo 400 × 400 × 140 mm
Ứng dụng: Đo độ dày lớp mạ Cr, Ni, Zn, Sn trên bu lông, ốc vít, linh kiện dập cơ khí và phụ tùng ô tô xe máy.
Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Phân Tích RoHS Để Bàn HORIBA MESA-50
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Phân Tích RoHS Để Bàn HORIBA MESA-50

1. Giới thiệu dòng máy HORIBA MESA-50

HORIBA MESA-50 là máy phân tích quang phổ huỳnh quang tia X (ED-XRF) để bàn chuyên dụng hàng đầu thế giới được thiết kế cho việc kiểm tra sàng lọc các nguyên tố độc hại theo chỉ thị RoHS / ELV / Halogen-Free. Thiết bị sử dụng đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) không cần dùng nitơ lỏng, vận hành êm ái, bền bỉ và độ chính xác cực cao.

2. Đặc điểm kỹ thuật nổi bật

  • Tự động lựa chọn khẩu độ đo (Collimator Switching): Tích hợp 3 khẩu độ điểm đo 1.2 mm, 3 mm và 7 mm, phù hợp từ các linh kiện dán siêu nhỏ đến các tấm phôi nhựa lớn.
  • Đo các chất Halogen (Clo, Brom) và kim loại nặng độc hại: Phân tích đồng thời Cl, Br, Pb, Cd, Hg, Cr trong vật liệu nhựa và linh kiện.
  • Bộ lọc quang học đa lớp (Multi-filters): Tự động chuyển đổi bộ lọc giúp tối ưu hóa phổ phát hiện cho từng nguyên tố mục tiêu.
  • Buồng đo an toàn bức xạ tuyệt đối: Hệ thống cảm biến khóa liên động bảo vệ an toàn cho người sử dụng đạt chuẩn IEC 61010-1.

3. Thông số kỹ thuật HORIBA MESA-50

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA MESA-50)
Phương pháp phân tích Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF)
Đầu dò tia X (Detector) Silicon Drift Detector (SDD) làm mát nhiệt điện tử Peltier (không dùng LN2)
Dải nguyên tố đo Từ Nhôm (Al, Z=13) hoặc Clo (Cl, Z=17) đến Urani (U, Z=92)
Kích thước buồng đo mẫu 310 x 250 x 100 mm
Đường kính điểm đo Ø 1.2 mm, Ø 3 mm, Ø 7 mm (Tự động chuyển đổi)
Kích thước & Trọng lượng 400 x 550 x 400 mm / ~45 kg

4. Ứng dụng

Kiểm tra sàng lọc RoHS linh kiện điện tử, dây cáp điện, hạt nhựa nguyên sinh và tái sinh, lớp phủ bề mặt mạ kẽm mạ crom và kiểm soát chất lượng vật tư nhà máy gia công xuất khẩu.

Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Thông Minh Tự Động Hitachi FT230
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Thông Minh Tự Động Hitachi FT230

1. Giới thiệu tổng quan Hitachi FT230 (FT200 Series)

Hitachi FT230 là đại diện tiêu biểu của dòng máy phân tích lớp phủ XRF thông minh thế hệ mới FT200 Series. Máy được thiết kế nhằm tối ưu hóa tối đa năng suất kiểm tra (Throughput) thông qua công nghệ nhận diện linh kiện thông minh Find My Part™, giảm thời gian chuẩn bị đo của người vận hành từ hàng chục phút xuống dưới vài giây.

2. Đặc điểm đột phá công nghệ

  • Công nghệ nhận diện mẫu Find My Part™: Chỉ cần đặt mẫu lên bàn đo, camera góc siêu rộng tự động nhận diện hình dạng linh kiện, tự động tải công thức đo (Recipe) và điều chỉnh tọa độ đo hoàn toàn tự động.
  • Tự động lấy nét và căn chỉnh khoảng cách đo (Auto Focus & Height Adjustment): Đảm bảo chùm tia X luôn hội tụ tối ưu ngay cả trên các bề mặt chi tiết uốn cong phức tạp.
  • Phần mềm điều khiển FT Connect thế hệ mới: Giao diện cảm ứng hiện đại, hiển thị kết quả Pass/Fail trực quan, quản lý dữ liệu kiểm định tập trung trên Cloud qua ExTOPE Connect.
  • Đầu dò bán dẫn SDD độ nhạy cao: Rút ngắn thời gian đo mỗi điểm xuống 3 – 5 lần so với các máy XRF truyền thống.

3. Thông số kỹ thuật Hitachi FT230

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi FT230)
Công nghệ phân tích Quang phổ huỳnh quang tia X vi điểm thông minh (Smart Microspot ED-XRF)
Ống phát tia X Microfocus 50 kV, tiêu cự siêu nhỏ
Đầu dò tia X Silicon Drift Detector (SDD) tốc độ đếm xung cực cao
Tự động hóa thông minh Find My Part™ tự nhận diện mẫu + Auto-Focus + Auto-Collimator
Hành trình bàn đo XY Bàn đo tự động khổ lớn, diện tích đo mở rộng

4. Ứng dụng thực tế

Kiểm tra chất lượng lớp mạ hàng loạt trong các nhà máy sản xuất linh kiện ô tô, xưởng mạ điện tử cao cấp, bo mạch PCB nhiều lớp và chi tiết hàng không vũ trụ.

Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Kim Loại Quý FISCHERSCOPE X-RAY XAN
Quick View
, ,

Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Kim Loại Quý FISCHERSCOPE X-RAY XAN

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE X-RAY XAN

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® là dòng máy phân tích huỳnh quang tia X chuyên dụng cho việc kiểm tra thành phần hàm lượng kim loại quý, vàng, bạc, bạch kim, vàng trắng và trang sức cao cấp với độ tin cậy tuyệt đối.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Phân tích định lượng đồng thời 24 nguyên tố: Đo hàm lượng vàng Karat (từ 0 đến 24K), bạc, bạch kim (Pt), Rhodium (Rh), Ruthenium (Ru) và phát hiện kim loại độc hại theo chuẩn RoHS.
  • Đầu dò Silicon PIN hoặc Silicon Drift Detector (SDD): Độ phân giải phổ năng lượng cực cao, phân tách rõ ràng các vạch phổ liền kề như Au, Pt, Ni, Cu.
  • Hướng đo từ dưới lên (Bottom-up): Đặt trang sức trực tiếp lên cửa sổ đo phẳng, thao tác kiểm tra chỉ mất từ 10 đến 30 giây.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XAN

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (FISCHERSCOPE XAN)
Đầu thu phát hiện quang phổ Silicon PIN Diode hoặc Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải < 140 eV
Dải nguyên tố phân tích Từ Nhôm (Al, Z=13) đến Uranium (U, Z=92)
Độ lặp lại phép đo vàng ≤ 0.5 ‰ (0.05%) đối với vàng tiêu chuẩn
Thời gian đo tiêu chuẩn 10 ~ 60 giây
Ứng dụng: Tiệm vàng bạc, trung tâm kiểm định vàng bạc đá quý, nhà máy chế tác kim hoàn và phòng phân tích hợp kim quý.
Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Mạ Bo Mạch FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Mạ Bo Mạch FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDAL-PCB

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®-PCB là dòng máy quang phổ XRF chuyên sâu cho bo mạch PCB cao cấp, tích hợp đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) độ nhạy cao và bàn đo mở rộng, cho phép phân tích chính xác các lớp mạ nano siêu mỏng và xác định nồng độ phốt pho %P trong lớp NiP.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Đầu dò SDD độ phân giải cao: Giúp phân tích rõ ràng các lớp mạ vàng mỏng dưới 10 nm trên bề mặt ENEPIG (Au/Pd/Ni-P/Cu).
  • Thiết kế buồng chữ U chống uốn võng tấm PCB: Hỗ trợ giữ phẳng các tấm panel PCB cỡ lớn trong suốt chu trình quét đo.
  • Tự động nhận diện mẫu và đo lường tự động: Tích hợp camera zoom quang học độ nét cao giúp định vị tự động các điểm kiểm tra.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDAL-PCB

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (XDAL-PCB)
Đầu thu phát hiện Silicon Drift Detector (SDD), độ phân giải < 140 eV
Kích thước tấm PCB tối đa 610 × 610 mm
Khẩu độ chuẩn trực 4 khẩu độ tự động chuyển đổi từ 0.1 đến 0.6 mm
Ứng dụng: Phân tích %P trong lớp NiP, đo lớp phủ nano Au/Pd trên bo mạch chủ điện thoại, máy tính và thiết bị viễn thông 5G.
Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Tuổi Vàng GOLDSCOPE SD
Quick View
, ,

Máy Đo Quang Phổ Phân Tích Tuổi Vàng GOLDSCOPE SD

1. Giới thiệu tổng quan GOLDSCOPE SD

GOLDSCOPE SD® là dòng máy đo tuổi vàng quang phổ huỳnh quang tia X chuyên dụng, được tối ưu riêng biệt cho ngành kim hoàn, tiệm vàng và cơ sở kinh doanh trang sức với chi phí đầu tư hợp lý và độ chính xác tiêu chuẩn Đức.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Đo nhanh và không phá hủy mẫu: Phân tích thành phần tuổi vàng (Karat), hàm lượng tạp chất Ag, Cu, Ni, Zn, Cd mà không cần cạo hay nấu chảy mẫu.
  • Đầu dò Silicon PIN Detector hiệu năng cao: Cho kết quả phân tích ổn định, độ phân giải năng lượng xuất sắc.
  • Phần mềm WinFTM đơn giản hóa: Hiển thị kết quả tuổi vàng trực quan, in chứng chỉ tuổi vàng ngay tại quầy giao dịch.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết GOLDSCOPE SD

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (GOLDSCOPE SD)
Ống phát tia X Ống tia X vi tiêu cự 30 kV hoặc 50 kV với bia Tungsten
Đầu dò quang phổ Silicon PIN Diode làm mát bằng điện Peltier
Kích thước điểm đo 0.2 mm, 0.6 mm, 1.0 mm (Tùy chọn chuẩn trực)
Kích thước buồng đo 305 × 490 × 220 mm
Ứng dụng: Kiểm tra tuổi vàng 10K, 14K, 18K, 24K, phát hiện vàng độn vonfram, kiểm định bạc và trang sức kim hoàn.
Máy Đo Quang Phổ RoHS Buồng Mẫu Khổ Lớn HORIBA MESA-50K
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ RoHS Buồng Mẫu Khổ Lớn HORIBA MESA-50K

1. Giới thiệu dòng máy HORIBA MESA-50K

HORIBA MESA-50K là phiên bản buồng mẫu mở rộng khổ lớn (Large Chamber Model) của dòng máy quang phổ RoHS MESA-50 danh tiếng. Với không gian buồng đo mẫu cực đại lên đến 460 x 360 x 150 mm, máy cho phép đặt nguyên khối các sản phẩm hoàn thiện lớn như bo mạch chủ máy tính, khung vỏ nhựa tivi, linh kiện nội thất ô tô và cuộn dây cáp mà không cần cắt nhỏ mẫu.

2. Đặc tính công nghệ nổi bật

  • Buồng đo mẫu kích thước cực đại (Super Large Chamber): Thao tác đặt mẫu nguyên khối nhanh chóng, giữ nguyên vẹn mẫu thử thương mại của khách hàng.
  • Đầu dò bán dẫn Silicon Drift Detector (SDD) hiệu năng cao: Cho tốc độ đếm xung tín hiệu cao, rút ngắn thời gian phân tích mẫu xuống dưới 60 giây.
  • Phần mềm điều khiển thông minh tự động kết luận Pass/Fail: Cài đặt ngưỡng cảnh báo theo chỉ thị RoHS 2.0 (2011/65/EU) và sửa đổi RoHS 3 (2015/863).
  • Tích hợp camera độ nét cao và laser định vị: Định vị chính xác tọa độ điểm đo trên các chi tiết phức tạp.

3. Thông số kỹ thuật HORIBA MESA-50K

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA MESA-50K)
Phương pháp phân tích Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF)
Kích thước buồng đo mẫu 460 x 360 x 150 mm (Buồng siêu lớn)
Đầu dò tia X (Detector) Silicon Drift Detector (SDD) thế hệ mới làm mát Peltier
Dải nguyên tố đo Từ Al (Z=13) hoặc Cl (Z=17) đến U (Z=92)
Khẩu độ điểm đo Ø 1.2 mm, Ø 3 mm, Ø 7 mm
Cổng kết nối USB 2.0 / LAN kết nối máy tính điều khiển

4. Ứng dụng thực tế

Kiểm tra RoHS các sản phẩm hoàn thiện kích thước lớn, vỏ thiết bị gia dụng (máy giặt, tủ lạnh, lò vi sóng), cụm đèn xe ô tô, bản mạch điện tử công nghiệp và đồ chơi khổ lớn.

Máy Đo Quang Phổ Tia X Độ Nhạy Cao FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Tia X Độ Nhạy Cao FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV-SDD

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD là dòng máy đo quang phổ huỳnh quang tia X cao cấp hàng đầu với đầu dò diện tích lớn Silicon Drift Detector (SDD 50 mm²), mang lại khả năng đếm xung photon siêu cao và giới hạn phát hiện vết nguyên tố ở nồng độ cực thấp (ppm).

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Đầu dò Large-area SDD 50 mm²: Độ nhạy tín hiệu cao gấp nhiều lần đầu dò thông thường, rút ngắn thời gian đo xuống chỉ vài giây.
  • Phân tích hàm lượng chì không chì (Lead-free) & Tiêu chuẩn RoHS: Kiểm tra cực nhạy các nguyên tố độc hại Pb, Hg, Cd, Cr(VI), Br trong vật liệu điện tử.
  • Đo hàm lượng Phốt pho (%P) trong lớp mạ NiP: Tự động phân tích tỷ lệ %P trong lớp mạ Niken hóa học (Electroless Nickel) một cách chính xác tuyệt đối.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV-SDD

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (XDV-SDD)
Đầu thu phát hiện Silicon Drift Detector diện tích lớn (SDD 50 mm²), độ phân giải < 130 eV
Bộ lọc sơ cấp (Primary Filters) Hệ 6 bộ lọc tự động chuyển đổi
Bộ chuẩn trực (Collimators) 4 khẩu độ tự động: 0.1 mm, 0.3 mm, 0.6 mm, 1.0 mm
Ứng dụng: Phân tích nồng độ %P trong lớp mạ NiP, đo lớp phủ ENIG/ENEPIG, kiểm định RoHS/WEEE và kiểm tra vật liệu cao cấp.
Máy Đo Quang Phổ Tự Động FISCHERSCOPE X-RAY XDLM
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Tự Động FISCHERSCOPE X-RAY XDLM

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE X-RAY XDLM

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® là phiên bản máy đo quang phổ huỳnh quang tia X hướng trên xuống tích hợp bàn đo tự động lập trình CNC XY và bộ chuẩn trực đa khẩu độ vi mô, chuyên phục vụ đo lường tự động hàng loạt.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Lập trình đo tự động đa điểm CNC: Tự động di chuyển bàn mẫu và đo hàng trăm điểm kiểm tra theo tọa độ cài đặt trước mà không cần can thiệp thủ công.
  • Khẩu độ vi mô đa kích thước: Hệ 4 chuẩn trực tự động thay đổi từ 0.05 mm đến 0.3 mm giúp đo chính xác các chân tiếp xúc siêu nhỏ.
  • Tích hợp camera zoom quang học kỹ thuật số: Giúp định vị vi điểm mẫu đo với độ nét hoàn hảo.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDLM

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (FISCHERSCOPE XDLM)
Bàn đo mẫu (XY Stage) Bàn điều khiển động cơ CNC tự động hành trình 250 × 250 mm
Khẩu độ chuẩn trực 4 khẩu độ tự động chuyển đổi: 0.05, 0.1, 0.2, 0.3 mm
Độ chính xác định vị ≤ 5 µm
Đầu thu phát hiện Proportional Counter Tube hoặc Silicon PIN Diode
Ứng dụng: Kiểm tra tự động các mảng đầu nối connector, chân cắm IC, bảng mạch in PCB và linh kiện điện tử sản xuất hàng loạt.
Máy Đo Quang Phổ Vi Điểm Khổ Lớn FISCHERSCOPE XDV-µ PCB-XL
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Vi Điểm Khổ Lớn FISCHERSCOPE XDV-µ PCB-XL

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV-µ PCB-XL

FISCHERSCOPE® XDV®-µ PCB XL là hệ thống đo quang phổ vi điểm khổ siêu lớn (Extra Large PCB Micro-XRF), được thiết kế chuyên biệt cho việc kiểm tra tự động các tấm panel bo mạch in khổ cực đại lên đến 750 × 650 mm với độ phân giải vi điểm nano/micron.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Khu vực gá đặt phôi siêu lớn 750 × 650 mm: Bàn mẫu CNC XY tự động di chuyển toàn dải đo trên các tấm bo mạch máy chủ (Server Board) và bảng mạch viễn thông phức tạp.
  • Hệ quang học hội tụ Polycapillary cao cấp: Chùm tia X hội tụ 20 µm kết hợp đầu dò SDD 50 mm² cho độ nhạy tối đa.
  • Phần mềm WinFTM tích hợp giao diện tự động hóa công nghiệp: Tương thích giao thức SECS/GEM cho nhà máy thông minh Smart Factory.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV-µ PCB-XL

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (XDV-µ PCB-XL)
Kích thước bảng PCB hỗ trợ Lên đến 750 × 650 mm (XL Size)
Công nghệ quang học hội tụ Polycapillary X-ray Optics (Điểm đo 20 µm)
Đầu thu phát hiện Silicon Drift Detector (SDD) 50 mm²
Ứng dụng: Đo kiểm tự động các tấm panel bo mạch chủ máy chủ, trạm viễn thông, màng mỏng bán dẫn và đế chip IC Substrate cao cấp.
Máy Đo Quang Phổ Vi Điểm Micro-XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ
Quick View
, , ,

Máy Đo Quang Phổ Vi Điểm Micro-XRF FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ

1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV-µ

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ là hệ thống đo quang phổ huỳnh quang tia X vi điểm tối tân (Micro-XRF) sử dụng thấu kính quang học đa mao quản Polycapillary Optics, cho phép hội tụ chùm tia X xuống kích thước siêu nhỏ chỉ 10 ~ 20 micron với cường độ bức xạ cực mạnh.

2. Tính năng công nghệ nổi bật

  • Thấu kính đa mao quản Polycapillary X-ray Optics: Hội tụ chùm tia X xuống điểm đo cực nhỏ (FWHM ~ 20 µm) với cường độ chùm tia gấp hàng ngàn lần so với chuẩn trực thông thường.
  • Đo các cấu trúc siêu vi trong bán dẫn: Đo độ dày và thành phần trên các chân tiếp xúc Bond Pad, vi mạch IC, Bump mạ và khung dẫn siêu nhỏ.
  • Lập bản đồ phân bố nguyên tố 2D/3D (Element Mapping): Quét và hiển thị bản đồ mật độ lớp mạ trên toàn bộ bề mặt vi cấu trúc.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV-µ

Thông số kỹ thuật Giá trị tiêu chuẩn (XDV-µ Series)
Hệ quang học hội tụ Polycapillary X-ray Optics (Kích thước điểm tia: 10 ~ 20 µm FWHM)
Đầu thu phát hiện Silicon Drift Detector (SDD 50 mm²), độ phân giải < 130 eV
Độ chính xác định vị bàn mẫu ≤ 1.0 µm (Bàn di chuyển động cơ bước siêu chính xác)
Ứng dụng: Ngành đóng gói bán dẫn (Semiconductor Packaging), linh kiện vi cơ điện tử MEMS, bo mạch HDI PCB và pin công nghệ cao.

Hỗ Trợ Báo Giá Nhanh

Hotline tư vấn 24/7 0348 353 384
CHAT ZALO NHẬN BÁO GIÁ

* Phản hồi yêu cầu báo giá trong 15 phút

Tìm Kiếm & Lọc Thiết Bị

Năng Lực & Cam Kết

  • Chuẩn ISO 17025: Đầy đủ năng lực hiệu chuẩn đo lường quốc tế.
  • Mài phẳng tận nơi: Dịch vụ mài phẳng bàn đá granite 24/7.
  • Giấy tờ CO/CQ: Cam kết thiết bị chính hãng Werka, Mitutoyo.
  • Đào tạo kỹ thuật: Chuyển giao nghiệp vụ đo lường cơ khí chính xác.

ĐĂNG KÝ TẢI CATALOGUE

Vui lòng điền thông tin để nhận mã xác thực tải Catalogue trọn bộ thiết bị Werka mới nhất (PDF):

Copyright © 2026 Werka.com.vn

https://www.youtube.com/@KAIZENCREATIVE.2015         

© Created by  8theme - Power Elite ThemeForest Author.
Home
Shop
0 Wishlist
More
More
Gọi hotline Chat Zalo báo giá
Zalo
Phone