Hệ Thống Đo XRF Tự Động Inline Trên Dây Chuyền Sản Xuất FISCHERSCOPE X-RAY 5000

1. Giới thiệu dòng thiết bị FISCHERSCOPE® X-RAY 5000

FISCHERSCOPE® X-RAY 5000 Series là giải pháp đo quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) công nghiệp tự động hóa hoàn toàn, được thiết kế để tích hợp trực tiếp vào dây chuyền sản xuất liên tục tốc độ cao (Inline Process Control). Thiết bị chuyên dụng cho việc kiểm soát độ dày lớp phủ và thành phần hợp kim mỏng trên các dải kim loại, cuộn mạ (Coil Coating), pin mặt trời (Photovoltaics) và dải mạ dập liên tục (Reel-to-Reel).

2. Đặc tính công nghệ vượt trội

• Vận hành Inline 100% thời gian thực: Đo liên tục không tiếp xúc và không phá hủy mẫu trực tiếp trên dải phôi đang chuyển động ở vận tốc cao.
• Hệ thống đầu đo XRF di chuyển linh hoạt (Traversing Mechanism): Đầu đo có khả năng quét ngang tự động theo chiều rộng của dải dập/cuộn tôn để vẽ biểu đồ phân bố độ dày biên dạng toàn diện.
• Đầu dò bán dẫn Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải cực cao: Đo chính xác các lớp mạ siêu mỏng vài nanomet đến micromet và phân tích hợp kim phức tạp nhiều nguyên tố.
• Kết nối PLC công nghiệp & Nhà máy thông minh: Tích hợp chuẩn giao tiếp Profinet, Profibus, EtherCAT, OPC-UA truyền dữ liệu kiểm soát vòng kín (Closed-loop Control) đến hệ thống điều khiển mạ.

3. Thông số kỹ thuật FISCHERSCOPE X-RAY 5000

4. Ứng dụng công nghiệp

Dây chuyền mạ cuộn thép dải liên tục, mạ dập linh kiện đầu nối điện tử Reel-to-Reel, sản xuất pin mặt trời màng mỏng CIGS/CdTe, dải đồng lá cho pin xe điện (EV Battery) và mạ dải trang trí cao cấp.