Hitachi FT230 là đại diện tiêu biểu của dòng máy phân tích lớp phủ XRF thông minh thế hệ mới FT200 Series. Máy được thiết kế nhằm tối ưu hóa tối đa năng suất kiểm tra (Throughput) thông qua công nghệ nhận diện linh kiện thông minh Find My Part™, giảm thời gian chuẩn bị đo của người vận hành từ hàng chục phút xuống dưới vài giây.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi FT230) |
|---|---|
| Công nghệ phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X vi điểm thông minh (Smart Microspot ED-XRF) |
| Ống phát tia X | Microfocus 50 kV, tiêu cự siêu nhỏ |
| Đầu dò tia X | Silicon Drift Detector (SDD) tốc độ đếm xung cực cao |
| Tự động hóa thông minh | Find My Part™ tự nhận diện mẫu + Auto-Focus + Auto-Collimator |
| Hành trình bàn đo XY | Bàn đo tự động khổ lớn, diện tích đo mở rộng |
Kiểm tra chất lượng lớp mạ hàng loạt trong các nhà máy sản xuất linh kiện ô tô, xưởng mạ điện tử cao cấp, bo mạch PCB nhiều lớp và chi tiết hàng không vũ trụ.
Reviews
There are no reviews yet.