Máy Phân Tích Nguyên Tố Bằng Laser Tích Hợp Kính Hiển Vi Keyence Sê-ri EA-300
Máy phân tích nguyên tố bằng laser tích hợp kính hiển vi Keyence Sê-ri EA-300 là thiết bị mang tính cách mạng trong lĩnh vực phân tích vật liệu và kiểm tra dị vật vi mô. Thiết bị tích hợp công nghệ quang phổ phát xạ plasma cảm ứng laser (LIBS – Laser Induced Breakdown Spectroscopy) trực tiếp vào đầu quang học của kính hiển vi kỹ thuật số, cho phép người dùng vừa soi hình ảnh phóng đại cao vừa xác định tức thì thành phần nguyên tố hóa học của mẫu trong vài giây mà không cần tiền xử lý phức tạp.
Ưu Điểm Đột Phá Của Keyence EA-300 Series
- Không cần tiền xử lý mẫu (Không cần hút chân không, không phủ vàng): Khắc phục hoàn toàn nhược điểm của kính hiển vi điện tử quét SEM-EDS. Mẫu thử ở mọi kích thước có thể đưa vào phân tích ngay lập tức dưới điều kiện khí quyển phòng bình thường.
- Phân tích tức thì chỉ bằng 1 cú nhấp chuột: Tia laser hội tụ tạo ra plasma vi điểm chỉ trong vài mili-giây, hệ thống quang phổ tự động đối chiếu cơ sở dữ liệu và hiển thị ngay tên nguyên tố cùng tỷ lệ phần trăm.
- Định danh được các nguyên tố nhẹ (từ Carbon C, Berylium Be, Bo B): Khả năng phát hiện nguyên tố carbon C và oxy O mà nhiều dòng máy XRF truyền thống không làm được.
- Phân tích dị vật kích thước siêu nhỏ (< 20 µm): Tọa độ điểm bắn laser được định vị chính xác tuyệt đối nhờ camera quan sát phóng đại cao.
- Bảo toàn tính toàn vẹn của mẫu: Điểm bắn laser có kích thước micromet cực nhỏ, gần như không phá hủy mẫu và có thể tiếp tục phân tích các hạng mục khác.
Bảng Thông Số Kỹ Thuật Chi Tiết
| Thông Số Kỹ Thuật | Chi Tiết Giá Trị |
|---|---|
| Nguyên lý phân tích | Quang phổ phát xạ Plasma cảm ứng Laser (LIBS) |
| Các nguyên tố có thể phát hiện | Tất cả nguyên tố từ số nguyên tử Be (Z=4) đến U (Z=92), bao gồm C, Al, Si, Fe, Cu, Ni, Cr, Ti, Mg, Pb… |
| Kích thước điểm phân tích nhỏ nhất | Đường kính điểm bắn laser ~ 20 µm |
| Thời gian phân tích | Khoảng 1 – 3 giây cho mỗi điểm đo |
| Môi trường đo lường | Áp suất khí quyển bình thường (Không yêu cầu buồng hút chân không) |
| Cơ sở dữ liệu nhận diện | Thư viện phân tích hợp kim kim loại, nhựa polymer, cao su, khoáng chất tiêu chuẩn AI tích hợp |
| Tính tương thích hệ thống | Gắn trực tiếp đồng bộ với hệ thống kính hiển vi kỹ thuật số Keyence dòng VHX-7000 / VHX-X1 |
Ứng Dụng Thực Tiễn Trong Công Nghiệp
- Kiểm soát độ sạch hạt kim loại (Technical Cleanliness): Định danh nhanh chóng nguồn gốc hạt cặn bám trong động cơ, hộp số theo tiêu chuẩn ISO 16232 và VDA 19.
- Phân tích dị vật trong linh kiện điện tử: Phát hiện tạp chất gây đoản mạch chân IC, bụi kim loại trong pin điện thoại và xe điện.
- Giám định & Phân loại hợp kim: Phân biệt nhanh mác thép inox (SUS304 vs SUS316), hợp kim nhôm, đồng thau mà không cần gửi mẫu đi phòng thí nghiệm bên ngoài.
Related products
Reviews
There are no reviews yet.