Máy Đo Quang Phổ Tia X Độ Nhạy Cao FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV-SDD
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD là dòng máy đo quang phổ huỳnh quang tia X cao cấp hàng đầu với đầu dò diện tích lớn Silicon Drift Detector (SDD 50 mm²), mang lại khả năng đếm xung photon siêu cao và giới hạn phát hiện vết nguyên tố ở nồng độ cực thấp (ppm).
2. Tính năng công nghệ nổi bật
- Đầu dò Large-area SDD 50 mm²: Độ nhạy tín hiệu cao gấp nhiều lần đầu dò thông thường, rút ngắn thời gian đo xuống chỉ vài giây.
- Phân tích hàm lượng chì không chì (Lead-free) & Tiêu chuẩn RoHS: Kiểm tra cực nhạy các nguyên tố độc hại Pb, Hg, Cd, Cr(VI), Br trong vật liệu điện tử.
- Đo hàm lượng Phốt pho (%P) trong lớp mạ NiP: Tự động phân tích tỷ lệ %P trong lớp mạ Niken hóa học (Electroless Nickel) một cách chính xác tuyệt đối.
3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV-SDD
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XDV-SDD) |
|---|---|
| Đầu thu phát hiện | Silicon Drift Detector diện tích lớn (SDD 50 mm²), độ phân giải < 130 eV |
| Bộ lọc sơ cấp (Primary Filters) | Hệ 6 bộ lọc tự động chuyển đổi |
| Bộ chuẩn trực (Collimators) | 4 khẩu độ tự động: 0.1 mm, 0.3 mm, 0.6 mm, 1.0 mm |
Ứng dụng: Phân tích nồng độ %P trong lớp mạ NiP, đo lớp phủ ENIG/ENEPIG, kiểm định RoHS/WEEE và kiểm tra vật liệu cao cấp.
Related products
Reviews
There are no reviews yet.