Hitachi CMI730 (thuộc CMI700 Series) là thiết bị đo độ dày lớp phủ để bàn công nghiệp chuyên dụng được thiết kế cho các nhà máy gia công bề mặt, xưởng xi mạ kim loại và phòng kiểm định chất lượng QA/QC. Thiết bị tích hợp đồng thời hai công nghệ đo tiên tiến: Cảm ứng từ (Magnetic Induction) và Dòng điện xoáy (Eddy Current).
2. Đặc điểm kỹ thuật nổi bật
Công nghệ đo kép linh hoạt: Đo lớp phủ kim loại và phi kim (sơn, bột tĩnh điện, mạ kẽm, mạ niken, mạ cadimi, anodize) trên nền kim loại từ tính (thép, sắt) và nền kim loại phi từ tính (nhôm, đồng, đồng thau).
Màn hình màu LCD lớn & Bàn phím số đầy đủ: Hiển thị kết quả rõ ràng kèm đồ họa phân phối dung sai, tính toán thống kê tức thời (Trung bình, Độ lệch chuẩn, Max, Min, Cpk).
Đa dạng đầu dò chuyên dụng (Probes): Tương thích với nhiều loại đầu dò khác nhau từ đầu dò vi mô, đầu dò góc 90 độ đến đầu dò đo bề mặt cong thô ráp.
Bộ nhớ lưu trữ lớn & Cổng truyền dữ liệu: Lưu hàng chục ngàn kết quả đo, xuất trực tiếp sang máy tính hoặc máy in phiếu kết quả.
3. Thông số kỹ thuật Hitachi CMI730
Thông số kỹ thuật
Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi CMI730)
Nguyên lý đo
Cảm ứng từ (Magnetic Induction) & Dòng điện xoáy (Eddy Current)
Dải đo độ dày
Từ 0.1 µm đến hàng ngàn µm (phụ thuộc vào đầu dò lựa chọn)
Độ chính xác
±1% hoặc ±0.1 µm (theo chuẩn tham chiếu)
Bộ nhớ lưu trữ
Lên tới 26,000 giá trị đo
Giao tiếp kết nối
RS-232 / USB kết nối máy tính & máy in
4. Ứng dụng thực tế
Kiểm tra độ dày lớp mạ kẽm, niken, crom trên chi tiết dập kim loại, khung gầm ô tô, lớp sơn tĩnh điện trên vỏ tủ điện và lớp anode nhôm trong công trình kiến trúc.
BETASCOPE® là thiết bị đo độ dày lớp phủ không phá hủy hoạt động dựa trên phương pháp tán xạ ngược hạt Beta (Beta Backscatter Method theo tiêu chuẩn DIN EN ISO 3543 và ASTM B567). Đây là giải pháp đo kinh điển và cực kỳ tin cậy để xác định độ dày của các lớp mạ kim loại hữu cơ và vô cơ trên nền kim loại, gốm sứ hoặc chất dẻo phi kim.
2. Đặc điểm kỹ thuật nổi bật
Khả năng đo đa dạng vật liệu không từ tính: Đo lớp phủ vàng (Au), bạc (Ag), rhodium (Rh), thiếc chì (SnPb), sơn chống thấm trên mọi nền chất liệu khi số nguyên tử khác biệt $Delta Z ge 5$.
Đo lớp mạ trên vật liệu phi kim: Cho phép đo lớp mạ kim loại trên nền gốm (Ceramic), nhựa (Plastic), sợi thủy tinh (Glass fiber) hoặc cao su.
Nguồn phát đồng vị phóng xạ mức thấp an toàn: Sử dụng các nguồn phát Beta yếu (Promethium-147, Thallium-204, Strontium-90) kết hợp buồng chắn bức xạ đạt chuẩn an toàn tuyệt đối.
Độ nhạy phân giải nanomet: Phù hợp đo các lớp phủ vàng cực mỏng trong ngành linh kiện bán dẫn và trang sức cao cấp.
3. Thông số kỹ thuật BETASCOPE
Thông số kỹ thuật
Giá trị tiêu chuẩn (BETASCOPE)
Tiêu chuẩn phương pháp
DIN EN ISO 3543, ASTM B567 (Beta Backscatter)
Dải đo độ dày
0.02 – 100 µm (phụ thuộc vào nguồn đồng vị Beta sử dụng)
Kiểm tra độ dày lớp mạ vàng trên tiếp điểm rơ-le, đầu nối vi mạch tích hợp (IC lead frames), lớp phủ chống ăn mòn trong công nghệ hàng không và ngành sản xuất đồng hồ cao cấp Thụy Sĩ.
Hitachi CMI243 là thiết bị đo độ dày lớp mạ cầm tay nhỏ gọn, chuyên dụng để đo chính xác các lớp phủ kim loại (kẽm Zn, niken Ni, cadimi Cd, crom Cr, đồng Cu) trên nền vật liệu sắt từ (Ferrous / Steel). Thiết bị được tối ưu đặc biệt cho việc đo trên các chi tiết nhỏ, góc cạnh phức tạp, ốc vít và bề mặt gồ ghề.
2. Đặc tính kỹ thuật nổi bật
Công nghệ cảm ứng từ phân giải cao (High-precision Magnetic Induction): Cung cấp kết quả đo lặp lại chính xác và ổn định vượt trội.
Đầu dò rời cáp mềm chuyên dụng (External Probe): Dễ dàng tiếp cận các vị trí khuất, rãnh hẹp, mặt trong chi tiết ống và ren ốc vít.
Hiệu chuẩn đơn điểm & đa điểm thông minh: Hiệu chuẩn nhanh trên phôi chuẩn của khách hàng, loại bỏ sai số do độ cong bề mặt mẫu.
Vận hành bền bỉ bằng pin: Thiết kế chống va đập, phù hợp cho kỹ sư kiểm tra lưu động tại xưởng sản xuất và bãi tập kết vật tư.
3. Thông số kỹ thuật Hitachi CMI243
Thông số kỹ thuật
Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi CMI243)
Phương pháp đo
Cảm ứng từ (Magnetic Induction) theo ASTM B499 / ISO 2178
