Quay lại

Thiết Bị Đo Độ Dày Lớp Phủ Bằng Phương Pháp Tán Xạ Ngược Tia Beta BETASCOPE

1. Giới thiệu công nghệ BETASCOPE®

BETASCOPE® là thiết bị đo độ dày lớp phủ không phá hủy hoạt động dựa trên phương pháp tán xạ ngược hạt Beta (Beta Backscatter Method theo tiêu chuẩn DIN EN ISO 3543 và ASTM B567). Đây là giải pháp đo kinh điển và cực kỳ tin cậy để xác định độ dày của các lớp mạ kim loại hữu cơ và vô cơ trên nền kim loại, gốm sứ hoặc chất dẻo phi kim.

2. Đặc điểm kỹ thuật nổi bật

Khả năng đo đa dạng vật liệu không từ tính: Đo lớp phủ vàng (Au), bạc (Ag), rhodium (Rh), thiếc chì (SnPb), sơn chống thấm trên mọi nền chất liệu khi số nguyên tử khác biệt $Delta Z ge 5$.
Đo lớp mạ trên vật liệu phi kim: Cho phép đo lớp mạ kim loại trên nền gốm (Ceramic), nhựa (Plastic), sợi thủy tinh (Glass fiber) hoặc cao su.
Nguồn phát đồng vị phóng xạ mức thấp an toàn: Sử dụng các nguồn phát Beta yếu (Promethium-147, Thallium-204, Strontium-90) kết hợp buồng chắn bức xạ đạt chuẩn an toàn tuyệt đối.
Độ nhạy phân giải nanomet: Phù hợp đo các lớp phủ vàng cực mỏng trong ngành linh kiện bán dẫn và trang sức cao cấp.

3. Thông số kỹ thuật BETASCOPE

Thông số kỹ thuật	Giá trị tiêu chuẩn (BETASCOPE)
Tiêu chuẩn phương pháp	DIN EN ISO 3543, ASTM B567 (Beta Backscatter)
Dải đo độ dày	0.02 – 100 µm (phụ thuộc vào nguồn đồng vị Beta sử dụng)
Nguồn phát đồng vị hỗ trợ	Pm-147 (0.02 – 2.5 µm Au), Tl-204 (0.5 – 15 µm Au), Sr-90 (2 – 50 µm Au)
Độ chính xác đo	± 1% – 2% giá trị đo
Khẩu độ đo (Apertures)	Từ 0.2 mm đến 5.0 mm đáp ứng đa dạng kích cỡ mẫu

4. Ứng dụng thực tế

Kiểm tra độ dày lớp mạ vàng trên tiếp điểm rơ-le, đầu nối vi mạch tích hợp (IC lead frames), lớp phủ chống ăn mòn trong công nghệ hàng không và ngành sản xuất đồng hồ cao cấp Thụy Sĩ.

Liên hệ báo giá

Categories: Máy đo độ dày lớp phủ, Máy móc