Máy Đo Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Đa Năng FISCHERSCOPE XDV
1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE XDV
FISCHERSCOPE® XDV® là hệ thống đo quang phổ tia X cao cấp với buồng mẫu rộng lớn, tích hợp hệ thống quang học zoom tự động và bàn đo điều khiển CNC chính xác cao, chuyên dụng cho phân tích vi lượng và đo lớp mạ siêu mỏng.
2. Tính năng công nghệ nổi bật
- Khả năng đo nguyên tố nhẹ trong môi trường chân không/khí Heli: Phân tích chính xác các nguyên tố siêu nhẹ như Natri (Na), Magie (Mg), Nhôm (Al), Silic (Si).
- Bàn mẫu CNC XY tải trọng lớn: Vận hành êm ái, hành trình mở rộng giúp đo các cụm phôi lớn hoặc pallet nhiều chi tiết.
- Hệ thống lấy nét bằng laser tự động (Laser Auto Focus): Định vị chính xác độ cao bề mặt mẫu đo trong tích tắc.
3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDV
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (FISCHERSCOPE XDV) |
|---|---|
| Đầu thu phát hiện | Large-area Silicon Drift Detector (SDD) |
| Hành trình bàn đo CNC | 250 × 250 mm hoặc tùy chọn mở rộng |
| Hệ thống lấy nét | Laser Auto Focus tích hợp camera màu HD |
Ứng dụng: Phân tích vật liệu bán dẫn, đo màng mỏng quang học, kiểm tra hợp kim đặc biệt và kiểm soát chất lượng R&D.
Related products
Reviews
There are no reviews yet.