Máy Đo Độ Dày Lớp Mạ Quang Phổ FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 600 là thiết bị đo quang phổ huỳnh quang tia X đa năng hàng đầu, trang bị đầu dò SDD độ nhạy cao và bàn đo cơ học/tự động CNC, chuyên dụng đo các hệ lớp phủ mạ siêu mỏng và phân tích hợp kim phức tạp.
2. Tính năng công nghệ nổi bật
- Đo hệ lớp phủ siêu mỏng từ vài nanomet: Đo chính xác các lớp mạ Au, Pd, NiP, Sn, ZnNi với giới hạn phát hiện cực thấp.
- Đầu dò Silicon Drift Detector (SDD): Khả năng phân tích tốt các nguyên tố nhẹ như Nhôm (Al), Silic (Si), Phốt pho (P) và Lưu huỳnh (S).
- Bàn mẫu CNC XY tự động di chuyển: Lập trình đo đa điểm tự động trên các bảng mạch điện tử và khung chì chì Leadframe.
3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XDAL 600
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XDAL 600) |
|---|---|
| Đầu thu phát hiện | Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải < 140 eV |
| Khẩu độ chuẩn trực | 4 khẩu độ tự động chuyển đổi (từ 0.1 mm đến 1.0 mm) |
| Bàn di chuyển mẫu | Bàn cơ khí hoặc bàn lập trình CNC XY tự động |
| Tiêu chuẩn quốc tế | ISO 3497, ASTM B568, DIN EN 14582 |
Ứng dụng: Ngành bán dẫn, linh kiện điện tử vi cơ, xi mạ kỹ thuật cao và kiểm tra tuân thủ môi trường RoHS.
Related products
Reviews
There are no reviews yet.