X-eye 9000 Series là dòng máy soi X-Ray Nanofocus đỉnh cao của tập đoàn SEC Hàn Quốc dành riêng cho các phòng thí nghiệm kiểm định vi mạch bán dẫn và các nhà máy chế tạo chip hàng đầu thế giới.
| Thông số | Giá trị tiêu chuẩn (X-eye 9000) |
|---|---|
| Độ phân giải tiêu cự | < 0.2 µm (200 nm Nanofocus) |
| Điện áp ống tia X | 160 kV Open Tube |
Kiểm tra vi mạch bán dẫn, dây nối vàng siêu mảnh 15 µm, vi cầu hàn Microbump và phân tích hỏng hóc IC.
Hitachi FT160 Series là hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X phân tích lớp phủ cao cấp hàng đầu thế giới được trang bị công nghệ hội tụ chùm tia Polycapillary Optics. Thiết bị được chế tạo chuyên biệt cho ngành công nghiệp bán dẫn (Semiconductor), bảng mạch in mật độ cao (High-Density Interconnect PCB) và linh kiện vi điện tử siêu nhỏ.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi FT160) |
|---|---|
| Hệ thống quang học | Thấu kính Polycapillary hội tụ chùm tia X vi điểm cực mạnh |
| Kích thước điểm phát tia X | Khoảng 30 µm (FWHM) hoặc 50 µm |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) diện tích lớn, làm mát nhiệt điện tử |
| Hệ thống chuyển động mẫu | Bàn đo động cơ servo tự động 3 trục XYZ độ chính xác cao |
| Khả năng phân tích lớp mạ | ENIG (Au/Ni/Cu), ENEPIG (Au/Pd/Ni/Cu), mạ hợp kim Sn-Pb, Au-Ag, v.v. |
Kiểm tra độ dày lớp mạ vi mô trong sản xuất chip bán dẫn, đóng gói vi mạch IC (Lead frames / BGA Substrates), bo mạch in điện thoại thông minh HDI PCB và đầu cắm micro-connector.
Hitachi X-Strata920 là hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để bàn chuyên dụng cao cấp hàng đầu thế giới của tập đoàn Hitachi High-Tech. Thiết bị được thiết kế tối ưu cho việc đo độ dày lớp phủ đơn lớp, đa lớp (lên tới 4 - 5 lớp) và phân tích thành phần lớp mạ hợp kim trên các linh kiện cơ khí chính xác, bảng mạch điện tử PCB, đầu nối connector và đồ trang sức.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi X-Strata920) |
|---|---|
| Phương pháp phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF) theo ISO 3497 / ASTM B568 |
| Đầu phát tia X (X-ray Tube) | Ống phát tia X Microfocus Micro-spot 50 kV, anode W hoặc Mo |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải cao hoặc Proportional Counter |
| Khẩu độ điểm đo (Collimator) | 4 khẩu độ tự động chuyển đổi: 0.05 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm |
| Số lớp đo đồng thời | Tối đa lên tới 5 lớp phủ (kể cả lớp hợp kim và lớp nền) |
| Dải nguyên tố phân tích | Từ Titan (Ti, Z=22) hoặc Nhôm (Al, Z=13) đến Urani (U, Z=92) |
Đo độ dày lớp mạ vàng (Au), niken (Ni), niken hóa học (Electroless Ni), thiếc (Sn), bạc (Ag), kẽm (Zn), crom (Cr) trên bảng mạch PCB, đầu cắm kết nối, chi tiết ô tô, linh kiện điện tử và đồ trang sức cao cấp.
HT5000C là hệ thống chụp cắt lớp vi tính công nghiệp (Industrial Computed Tomography - 3D CT) hàng đầu, cho phép tái tạo mô hình 3D hoàn chỉnh cấu trúc bên trong và bên ngoài của chi tiết phôi để đo kích thước hình học không phá hủy và phân tích khuyết tật thể tích.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (HT5000C) |
|---|---|
| Công nghệ chụp | Industrial 3D Computed Tomography (CT) |
| Điện áp ống tia X | 160 kV – 240 kV Microfocus |
| Kích thước mẫu đo tối đa | Ø 300 mm x Cao 400 mm |
Luyện kim đúc chính xác, in 3D kim loại (Additive Manufacturing), chi tiết hàng không vũ trụ và kiểm định y tế cao cấp.
X-eye SF160FCT là dòng máy chụp cắt lớp 3D CT công nghiệp cao cấp của SEC Hàn Quốc trang bị ống phát tia X 160kV Open Tube (ống mở) Nanofocus, cho phép quét CT 360° tái tạo cấu trúc chi tiết bên trong vật thể với độ chính xác đến từng micromet.
| Thông số | Giá trị tiêu chuẩn (SF160FCT) |
|---|---|
| Ống phát tia X | 160 kV Open Type Nanofocus |
| Độ phân giải tiêu cự | < 0.8 µm |
| Khả năng chụp CT 3D | Quét xoay 360 độ, dựng hình 3D Voxel độ nét cao |
Phân tích lỗi vật liệu, cấu trúc pin lithium, cảm biến MEMS, đầu phun kim phun xăng điện tử và vi mạch bán dẫn.
X-eye PCT 450 là hệ thống chụp cắt lớp vi tính CT 3D công nghiệp cao cấp nhất của SEC Hàn Quốc trang bị công nghệ ống phát tia X kép (Dual Tube: gồm 1 ống phát 225kV/450kV công suất cao và 1 ống phát 160kV Nanofocus), mang lại giải pháp hoàn chỉnh cho việc kiểm tra từ các chi tiết đúc kim loại siêu dày đến cấu trúc nano siêu nhỏ trong một thiết bị duy nhất.
| Thông số | Giá trị tiêu chuẩn (PCT 450) |
|---|---|
| Cấu hình ống phát | Dual Tube: 225 kV / 450 kV + 160 kV Nanofocus |
| Kích thước mẫu đo tối đa | Ø 450 mm x Cao 600 mm (Tải trọng lên đến 50 kg) |
Chi tiết đúc động cơ ô tô, pin xe điện kích thước lớn, vật liệu composite hàng không và mẫu địa chất công nghiệp.
X-eye 6300 là hệ thống kiểm tra X-Ray tự động Inline AXI công suất cao hàng đầu của SEC Hàn Quốc được trang bị ống phát tia X 160kV Open Tube Nanofocus, cho phép kiểm tra tốc độ cao các bản mạch nhiều lớp dày và các cụm linh kiện tản nhiệt lớn.
| Thông số | Giá trị tiêu chuẩn (X-eye 6300) |
|---|---|
| Điện áp ống tia X | 160 kV Open Tube Nanofocus |
| Chế độ vận hành | Inline 100% hoàn toàn tự động |
| Kích thước PCB tối đa | 510 x 460 mm |
Dây chuyền sản xuất bo mạch trạm phát sóng 5G, bo mạch máy chủ siêu máy tính, bo mạch nguồn ô tô điện EV và thiết bị điện tử công nghiệp hạng nặng.
MFX600LP là hệ thống kiểm tra X-quang tự động hoàn toàn (Automated X-ray Inspection - AXI) lắp đặt trực tiếp trên băng tải dây chuyền sản xuất SMT theo chuẩn SMEMA, tự động quét kiểm tra và phân loại 100% sản phẩm bo mạch.
| Thông số | Giá trị tiêu chuẩn (MFX600LP) |
|---|---|
| Chế độ vận hành | Inline 100% tự động (Chuẩn SMEMA) |
| Điện áp ống tia X | 100 kV / 130 kV Microfocus |
| Kích thước PCB tối đa | 510 x 460 mm |
Dây chuyền sản xuất lắp ráp điện tử tự động SMT công suất lớn, bo mạch điện thoại, ô tô và thiết bị viễn thông thông minh.
HORIBA XGT-9000 Series là hệ thống kính hiển vi phân tích quang phổ huỳnh quang tia X vi mô (X-ray Analytical Microscope / Micro-XRF) hàng đầu thế giới của tập đoàn HORIBA (Nhật Bản). Thiết bị kết hợp khả năng quan sát quang học độ phóng đại lớn và khả năng lập bản đồ phân bố nguyên tố (Elemental Mapping) vi mô siêu nhanh với kích thước chùm tia X hội tụ xuống mức 10 µm.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA XGT-9000) |
|---|---|
| Công nghệ phân tích | Micro-XRF kết hợp chụp ảnh X-ray truyền qua thời gian thực |
| Kích thước điểm phát tia X | 10 µm, 100 µm, 1.2 mm (Ống dẫn tia X mao quản siêu hội tụ) |
| Dải nguyên tố phân tích | Từ Natri (Na, Z=11) đến Urani (U, Z=92) |
| Đầu dò tia X | Dual Silicon Drift Detectors (SDD kép) diện tích lớn, độ nhạy cao |
| Kích thước buồng mẫu | Mẫu lên tới 350 x 300 mm (Bản XGT-9000SL buồng siêu lớn) |
Kiểm tra dị vật kim loại pin Lithium EV, phân tích lỗi vi mạch bán dẫn (Failure Analysis), kiểm tra RoHS vi mô trên chân linh kiện cực nhỏ, phân tích pháp y hình sự, khoáng sản địa chất và mẫu cổ vật.
HORIBA MESA-50 là máy phân tích quang phổ huỳnh quang tia X (ED-XRF) để bàn chuyên dụng hàng đầu thế giới được thiết kế cho việc kiểm tra sàng lọc các nguyên tố độc hại theo chỉ thị RoHS / ELV / Halogen-Free. Thiết bị sử dụng đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) không cần dùng nitơ lỏng, vận hành êm ái, bền bỉ và độ chính xác cực cao.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA MESA-50) |
|---|---|
| Phương pháp phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF) |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) làm mát nhiệt điện tử Peltier (không dùng LN2) |
| Dải nguyên tố đo | Từ Nhôm (Al, Z=13) hoặc Clo (Cl, Z=17) đến Urani (U, Z=92) |
| Kích thước buồng đo mẫu | 310 x 250 x 100 mm |
| Đường kính điểm đo | Ø 1.2 mm, Ø 3 mm, Ø 7 mm (Tự động chuyển đổi) |
| Kích thước & Trọng lượng | 400 x 550 x 400 mm / ~45 kg |
Kiểm tra sàng lọc RoHS linh kiện điện tử, dây cáp điện, hạt nhựa nguyên sinh và tái sinh, lớp phủ bề mặt mạ kẽm mạ crom và kiểm soát chất lượng vật tư nhà máy gia công xuất khẩu.
Hitachi FT230 là đại diện tiêu biểu của dòng máy phân tích lớp phủ XRF thông minh thế hệ mới FT200 Series. Máy được thiết kế nhằm tối ưu hóa tối đa năng suất kiểm tra (Throughput) thông qua công nghệ nhận diện linh kiện thông minh Find My Part™, giảm thời gian chuẩn bị đo của người vận hành từ hàng chục phút xuống dưới vài giây.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (Hitachi FT230) |
|---|---|
| Công nghệ phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X vi điểm thông minh (Smart Microspot ED-XRF) |
| Ống phát tia X | Microfocus 50 kV, tiêu cự siêu nhỏ |
| Đầu dò tia X | Silicon Drift Detector (SDD) tốc độ đếm xung cực cao |
| Tự động hóa thông minh | Find My Part™ tự nhận diện mẫu + Auto-Focus + Auto-Collimator |
| Hành trình bàn đo XY | Bàn đo tự động khổ lớn, diện tích đo mở rộng |
Kiểm tra chất lượng lớp mạ hàng loạt trong các nhà máy sản xuất linh kiện ô tô, xưởng mạ điện tử cao cấp, bo mạch PCB nhiều lớp và chi tiết hàng không vũ trụ.
HORIBA MESA-50K là phiên bản buồng mẫu mở rộng khổ lớn (Large Chamber Model) của dòng máy quang phổ RoHS MESA-50 danh tiếng. Với không gian buồng đo mẫu cực đại lên đến 460 x 360 x 150 mm, máy cho phép đặt nguyên khối các sản phẩm hoàn thiện lớn như bo mạch chủ máy tính, khung vỏ nhựa tivi, linh kiện nội thất ô tô và cuộn dây cáp mà không cần cắt nhỏ mẫu.
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (HORIBA MESA-50K) |
|---|---|
| Phương pháp phân tích | Quang phổ huỳnh quang tia X phân tán năng lượng (ED-XRF) |
| Kích thước buồng đo mẫu | 460 x 360 x 150 mm (Buồng siêu lớn) |
| Đầu dò tia X (Detector) | Silicon Drift Detector (SDD) thế hệ mới làm mát Peltier |
| Dải nguyên tố đo | Từ Al (Z=13) hoặc Cl (Z=17) đến U (Z=92) |
| Khẩu độ điểm đo | Ø 1.2 mm, Ø 3 mm, Ø 7 mm |
| Cổng kết nối | USB 2.0 / LAN kết nối máy tính điều khiển |
Kiểm tra RoHS các sản phẩm hoàn thiện kích thước lớn, vỏ thiết bị gia dụng (máy giặt, tủ lạnh, lò vi sóng), cụm đèn xe ô tô, bản mạch điện tử công nghiệp và đồ chơi khổ lớn.
Vui lòng điền thông tin để nhận mã xác thực tải Catalogue trọn bộ thiết bị Werka mới nhất (PDF):
File Catalogue trọn bộ thiết bị Werka (PDF) đã được gửi tự động vào hòm thư Email của bạn.
Vui lòng mở hộp thư đến (hoặc mục Spam/Quảng cáo) để tải tài liệu nhé!
