Hệ Thống Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X Đo Độ Dày Lớp Phủ Hitachi X-Strata920

1. Giới thiệu tổng quan Hitachi X-Strata920

Hitachi X-Strata920 là hệ thống quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để bàn chuyên dụng cao cấp hàng đầu thế giới của tập đoàn Hitachi High-Tech. Thiết bị được thiết kế tối ưu cho việc đo độ dày lớp phủ đơn lớp, đa lớp (lên tới 4 – 5 lớp) và phân tích thành phần lớp mạ hợp kim trên các linh kiện cơ khí chính xác, bảng mạch điện tử PCB, đầu nối connector và đồ trang sức.

2. Đặc điểm công nghệ vượt trội

• Đa dạng cấu hình buồng mẫu & bàn đo: Tùy chọn bàn đo cố định tiêu chuẩn, bàn đo di chuyển tự động có động cơ XY hoặc bàn đo khoang sâu (Deep Well Base) dành cho phôi mẫu kích thước lớn và phức tạp.
• Tùy chọn đầu dò Proportional Counter hoặc SDD: Đầu dò Silicon Drift Detector (SDD) độ phân giải năng lượng cao giúp phân tích các lớp phủ siêu mỏng cỡ nanomet và các nguyên tố liền kề.
• Hệ thống quang học vi điểm (Microspot Optics): Tích hợp 4 khẩu độ chuẩn (Collimators) tự động chuyển đổi từ 0.05 mm đến 0.3 mm, cho phép đo chính xác trên chân linh kiện cực nhỏ.
• Phần mềm SmartLink / X-Ray Station trực quan: Tự động nhận diện điểm đo, tính toán thống kê SPC và xuất báo cáo chất lượng theo tiêu chuẩn ASTM B568, ISO 3497 và DIN 50987.

3. Thông số kỹ thuật chi tiết Hitachi X-Strata920

4. Ứng dụng thực tế

Đo độ dày lớp mạ vàng (Au), niken (Ni), niken hóa học (Electroless Ni), thiếc (Sn), bạc (Ag), kẽm (Zn), crom (Cr) trên bảng mạch PCB, đầu cắm kết nối, chi tiết ô tô, linh kiện điện tử và đồ trang sức cao cấp.