Máy Đo Độ Dày Lớp Mạ Quang Phổ Huỳnh Quang Tia X FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL
1. Giới thiệu tổng quan FISCHERSCOPE X-RAY XULM / XUL
FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® / XUL® là dòng máy đo quang phổ huỳnh quang tia X (XRF) để bàn nhỏ gọn, linh hoạt và được ứng dụng rộng rãi nhất trên toàn cầu của hãng Helmut Fischer (Đức). Thiết bị chuyên dụng cho việc kiểm tra nhanh và không phá hủy độ dày lớp mạ điện phân, lớp phủ kim loại và phân tích thành phần dung dịch mạ.
2. Tính năng công nghệ nổi bật
- Hướng đo từ dưới lên (Bottom-up Geometry): Thiết kế buồng đo hở đáy thông minh cho phép định vị nhanh các chi tiết lớn, mẫu phẳng, linh kiện dập nổi hoặc các mẫu đo có hình dạng phức tạp mà không bị hạn chế kích thước.
- Bộ chuẩn trực ống kính vi mô (Micro-collimators): Model XULM trang bị hệ chuẩn trực đa khẩu độ có thể chuyển đổi linh hoạt giúp đo các điểm cực nhỏ trên đầu nối connector và linh kiện điện tử.
- Đầu dò ống đếm tỷ lệ nạp khí (Proportional Counter Tube): Mang lại tín hiệu đo ổn định, khả năng hấp thụ cường độ tia X cao và độ bền bỉ vượt thời gian.
- Phần mềm WinFTM độc quyền: Tự động tính toán độ dày lớp phủ đa lớp (lên đến 24 lớp) và phân tích thành phần hợp kim không cần mẫu chuẩn (Standardless Fundamental Parameter Method).
3. Thông số kỹ thuật chi tiết FISCHERSCOPE XULM / XUL
| Thông số kỹ thuật | Giá trị tiêu chuẩn (XULM / XUL Series) |
|---|---|
| Ống phát tia X (X-ray Tube) | Ống vi tiêu cự Micro-focus với bia Vonfram (W) hoặc Molybden (Mo), điện áp tối đa 50 kV |
| Đầu thu phát hiện (Detector) | Proportional Counter Tube (Ống đếm tỷ lệ khí) |
| Khẩu độ chuẩn trực (Collimator) | Hệ 4 khẩu độ tự động chuyển đổi: 0.05 mm, 0.1 mm, 0.2 mm, 0.3 mm (XULM) |
| Khoảng cách đo (Measuring Distance) | 0 ~ 25 mm (Cố định bằng công nghệ định vị quang học tự động) |
| Tiêu chuẩn tuân thủ | DIN ISO 3497, ASTM B568, RoHS, WEEE |
Ứng dụng: Đo độ dày lớp mạ Au/Ni/Cu, Zn/Fe, Cr/Ni/Cu, Sn/Cu, phân tích thành phần bể mạ điện phân và linh kiện ngành xi mạ công nghiệp.
Related products
Reviews
There are no reviews yet.